原位XPS(In-Situ XPS)
已預(yù)約6332次
平均周期11天 | 總體滿意度99%
立即預(yù)約
微區(qū)XPS
已預(yù)約3833次
平均周期4天 | 總體滿意度99.1%
立即預(yù)約
X射線光電子能譜(XPS)
已預(yù)約63350次
平均周期4天 | 總體滿意度99.3%
立即預(yù)約
原位拉曼
已預(yù)約551次
平均周期5天 | 總體滿意度99%
立即預(yù)約
原位電化學(xué)電子自旋共振波譜儀(ESR/EPR)
已預(yù)約7237次
平均周期9天 | 總體滿意度99%
立即預(yù)約
原位AFM
已預(yù)約213次
平均周期7天 | 總體滿意度99%
立即預(yù)約
原位(變溫)紫外光譜
已預(yù)約25次
平均周期5天 | 總體滿意度99.5%
立即預(yù)約
原位紅外(in-situ IR)
已預(yù)約8974次
平均周期10天 | 總體滿意度99.3%
立即預(yù)約
原位XRD
已預(yù)約5780次
平均周期11天 | 總體滿意度99.6%
立即預(yù)約
原位電化學(xué)XRD
已預(yù)約121次
平均周期10天 | 總體滿意度99.6%
立即預(yù)約
原位電化學(xué)拉曼
已預(yù)約2423次
平均周期15天 | 總體滿意度99%
立即預(yù)約
原位微分電化學(xué)質(zhì)譜儀(DEMS)
已預(yù)約3739次
平均周期10天 | 總體滿意度98%
立即預(yù)約
原位透射電鏡(in-situ TEM)
已預(yù)約3088次
平均周期20天 | 總體滿意度99%
立即預(yù)約
同步輻射微區(qū)表征測試
已預(yù)約2351次
平均周期30天 | 總體滿意度99%
立即預(yù)約
拉曼數(shù)據(jù)分析
已預(yù)約2273次
平均周期6天 | 總體滿意度99%
立即預(yù)約
原位斷層光譜
已預(yù)約1438次
平均周期10天 | 總體滿意度99%
立即預(yù)約
同步輻射原位表征測試
已預(yù)約3723次
平均周期30天 | 總體滿意度99%
立即預(yù)約
三維X射線顯微鏡XRM(顯微CT)
已預(yù)約2761次
平均周期7天 | 總體滿意度99.1%
立即預(yù)約
原位動(dòng)態(tài)吸收光譜
已預(yù)約1563次
平均周期20天 | 總體滿意度98%
立即預(yù)約
原位電化學(xué)紅外
已預(yù)約2033次
平均周期7天 | 總體滿意度99.1%
立即預(yù)約
電池反應(yīng)過程測試
已預(yù)約1695次
平均周期7天 | 總體滿意度99%
立即預(yù)約
恒電流間歇滴定測試(GITT)
已預(yù)約1710次
平均周期7天 | 總體滿意度99%
立即預(yù)約
原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)
已預(yù)約1998次
平均周期7天 | 總體滿意度99%
立即預(yù)約
原位EBSD(in-situ EBSD)
已預(yù)約57次
平均周期8天 | 總體滿意度99%
立即預(yù)約
電芯原位膨脹測試儀
已預(yù)約10次
平均周期10天 | 總體滿意度99%
立即預(yù)約