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    原位斷層光譜

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    原位斷層光譜

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    項目介紹

    原位斷層吸收光譜可表征薄膜不同深度處的組分分布、凝聚態(tài)結(jié)構(gòu)、光學(xué)分布、電荷局域態(tài)密度的空間和能量分布等，從而揭示薄膜中光學(xué)作用和電荷輸運的機制。本方法既可用于有機高分子的通用薄膜，也可用于功能薄膜。


    原位斷層吸收光譜主要包括原位紫外可見斷層光譜儀和原位紅外斷層光譜儀。

    樣品要求

    1.僅適用于有機薄膜，厚度范圍：2-500nm；

    2.對于平整均勻薄膜，斷層光譜的垂直空間分辨率優(yōu)于2nm；對于不均勻薄膜，分辨率會下降；

    3.吸收光譜和反射光譜均可測試；

    4.若器件為半透明，可直接準備不覆蓋無基層的“半器件”用于測試，例如您關(guān)心的器件為ITO/PEDOT/Active layer/PDINO/Ag，可提供ITO/PEDOT/Active layer/PDINO進行測試；如器件是不透明的，請?zhí)峁┩该骰字苽涞谋∧みM行測試；

    5.樣品平面尺寸：大于0.5平方厘米。

    項目案例

    原位斷層光譜

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