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聚焦離子束FIB在材料科學(xué)中的應(yīng)用與實(shí)踐

聚焦離子束 FIB 在材料科學(xué)中的應(yīng)用與實(shí)踐 聚焦離子束技術(shù)( Focused Ion Beam, FIB ) 在材料科學(xué)領(lǐng)域扮演著至關(guān)重要的角色,它利用高能離子束精確地對(duì)材料進(jìn)行微納尺度的加工、分析和修改 ; FIB 技術(shù)的出現(xiàn)極大地推動(dòng)了納米科技的發(fā)展,尤其是在樣品制備、微納結(jié)構(gòu)加工、故障分析...

2024-12-25

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FIB無敵折扣,盡享省心測(cè)試之旅,快來下單吧!

2024-11-14

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聚焦離子束FIB的優(yōu)勢(shì)與挑戰(zhàn):技術(shù)優(yōu)缺點(diǎn)探討

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2024-09-05

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FIB聚焦離子束技術(shù)在檢測(cè)樣品時(shí)樣品的制備流程解析

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2023-12-18

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聚焦離子束(FIB)助力新型材料研究與開發(fā)

聚焦離子束( FIB )助力新型材料研究與開發(fā) 聚焦離子束( FIB )技術(shù)是一種利用靜電透鏡將離子束聚焦成極小尺寸的微切割技術(shù) ,其原理是將液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過聚焦,形成具有高能量、高束流密度的離子束,通過控制離子束的掃描路徑,可以在材料表面進(jìn)行納米級(jí)的切割、刻蝕和修飾等操作; FIB...

2023-12-05

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FIB + SEM/TEM: 能量超乎你的想象!

為充分理解材料的“結(jié)構(gòu)-組成-性能”三要素之間的關(guān)系,科學(xué)界發(fā)展了許多成像和組分分析技術(shù),SEM和TEM就是表征這方面的常用儀器。SEM能夠?qū)Σ牧媳砻娴慕Y(jié)構(gòu)形貌和成分組成進(jìn)行分析,但是無法獲取材料內(nèi)部信息;TEM雖然能夠?qū)Ψ从吵鰳悠穬?nèi)部及表面信息的薄膜樣品進(jìn)行形貌、成分和結(jié)構(gòu)分析,但是前提是要制備...

2023-11-23

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關(guān)于聚焦離子束(FIB)的基本原理、主要用途及應(yīng)用優(yōu)勢(shì)

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2023-11-21

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FIB-SEM電鏡技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用及優(yōu)勢(shì)

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2023-10-08

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