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    FIB聚焦離子束技術在檢測樣品時樣品的制備流程解析
    來源： 時間：2023-12-18 16:58:58 瀏覽：2241次

    FIB聚焦離子束技術在檢測樣品時樣品的制備流程解析


    聚焦離子束FIB技術是一種基于離子光學原理的微納米加工技術，其具有高精度、高效率、實時性好等優(yōu)點。FIB技術在我國科研、工業(yè)等領域得到了廣泛的應用，尤其在樣品制備方面，FIB技術具有獨特的優(yōu)勢。本文將詳細介紹FIB技術在樣品制備中的應用及制樣流程。


    FIB聚焦離子束


    FIB聚焦離子束技術原理

    FIB技術是利用聚焦的離子束對樣品進行高精度、高效率的加工。其基本原理是將離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過聚焦、掃描等處理后，使其在樣品表面形成一個高能量密度的離子束斑點，通過調(diào)節(jié)離子束的參數(shù)，實現(xiàn)對樣品的切割、拋光等加工過程。


    FIB聚焦離子束制樣流程

    樣品固定：將待制備的樣品固定在FIB設備的工作臺上，確保樣品在加工過程中保持穩(wěn)定。常見的固定方式有機械夾持、真空吸附等。

    離子束掃描：開啟離子源，使離子束在樣品表面進行掃描，調(diào)整離子束的掃描速度、束流等參數(shù)，觀察樣品表面的反應，為后續(xù)加工過程做好準備。

    離子束切割：根據(jù)樣品的形貌和結(jié)構(gòu)，設定離子束的切割路徑。通過調(diào)節(jié)離子束的參數(shù)，實現(xiàn)對樣品的切割。在切割過程中，需要注意切割速度、離子束直徑等參數(shù)的優(yōu)化，以保證切割質(zhì)量。

    離子束拋光：在切割完成后，利用離子束對樣品進行拋光，以去除切割過程中產(chǎn)生的損傷層和雜質(zhì)。拋光過程中，需要關注離子束的參數(shù)調(diào)節(jié)，以及拋光液的選用。

    樣品轉(zhuǎn)移：將制備好的樣品從FIB設備上取下，轉(zhuǎn)移到其他分析設備（如掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡等）上進行進一步分析。

    數(shù)據(jù)采集與處理：在樣品制備過程中，實時采集離子束加工參數(shù)、樣品形貌等信息，并對數(shù)據(jù)進行分析處理，以便優(yōu)化制備過程。



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    12條評論
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    全部 3小時前 四川
    文字是人類用符號記錄表達信息以傳之久遠的方式和工具?，F(xiàn)代文字大多是記錄語言的工具。人類往往先有口頭的語言后產(chǎn)生書面文字，很多小語種，有語言但沒有文字。文字的不同體現(xiàn)了國家和民族的書面表達的方式和思維不同。文字使人類進入有歷史記錄的文明社會。
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