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當(dāng)前位置：材料測(cè)試 ?  顯微成像 ? 

SEM云現(xiàn)場(chǎng)/現(xiàn)場(chǎng)-北京

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SEM云現(xiàn)場(chǎng)/現(xiàn)場(chǎng)-北京

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項(xiàng)目介紹

場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（SEM），是一種用于高分辨形貌觀察的大型精密儀器。

SEM具有大景深、高分辨率、成像直觀、立體感強(qiáng)、放大倍數(shù)范圍寬，以及待測(cè)樣品可在三維空間內(nèi)旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點(diǎn)。

另外，它具有可測(cè)樣品種類(lèi)豐富、幾乎不損傷和污染原始樣品，以及可同時(shí)獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學(xué)信息等優(yōu)點(diǎn)。

目前，掃描電子顯微鏡已被廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、司法、地球科學(xué)、材料學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的微觀研究。

北京SEM，只能測(cè)試非磁性、弱磁樣品，最低標(biāo)尺可以到100nm，可做點(diǎn)掃、線(xiàn)掃、面掃能譜測(cè)試，高分辨、測(cè)試更準(zhǔn)確。

樣品要求

制樣要求

1.如提供TEM的形貌圖片，無(wú)參考意義;

2.塊體、片狀、薄膜尺寸小于1*1*0.5cm；粉末樣品大于10mg；

3.塊體、片狀、薄膜樣品請(qǐng)標(biāo)注測(cè)試面；粉末不能測(cè)試線(xiàn)掃；

4.含水樣品請(qǐng)自行干燥后送樣；

5.需備注照片倍數(shù)；每個(gè)樣最多10張，需要張數(shù)請(qǐng)備注；

6.能譜備注理想?yún)^(qū)域，如有標(biāo)尺要求請(qǐng)備注，如果沒(méi)有備注，常規(guī)測(cè)試；

7.1-4號(hào)元素不能測(cè)試能譜；BCNOF等超輕元素能譜測(cè)試不準(zhǔn)，望知曉；

8.圖片不再區(qū)分最小標(biāo)尺，最高倍數(shù)20萬(wàn)倍，取消500nm和100nm的區(qū)別；

9.送樣請(qǐng)先檢測(cè)磁性并如實(shí)告知，因?yàn)榇判晕凑f(shuō)明損傷儀器，需要承擔(dān)維修費(fèi)用；

10.能譜圖上會(huì)有文字，不要文字的需要自己處理；

11.若有預(yù)期的形貌和標(biāo)尺、放大倍數(shù)，最好在訂單中以文字說(shuō)明;

12.一些儀器由于軟件限制，一些標(biāo)尺無(wú)法輸出;

13.能譜說(shuō)明：按樣收費(fèi)測(cè)試時(shí)，點(diǎn)掃、線(xiàn)掃、面掃分別按照一個(gè)點(diǎn)、一條線(xiàn)、一個(gè)面計(jì)費(fèi)，僅提供一張形貌圖，并只用于展示測(cè)試位置。多個(gè)能譜按照個(gè)數(shù)計(jì)費(fèi)。云現(xiàn)場(chǎng)則按照測(cè)試時(shí)間收費(fèi)。


北京（現(xiàn)場(chǎng)/云現(xiàn)場(chǎng)）預(yù)約注意事項(xiàng)

2022.9.1日起，測(cè)試時(shí)間從進(jìn)樣開(kāi)始到測(cè)試結(jié)束進(jìn)行計(jì)算，請(qǐng)合理安排測(cè)試項(xiàng)目。

1.所有預(yù)約請(qǐng)?jiān)跍y(cè)試狗官網(wǎng)上進(jìn)行下單，里面有可進(jìn)行預(yù)約的時(shí)間段。

2.預(yù)約成功后，若因特殊原因無(wú)法到現(xiàn)場(chǎng)或視頻觀看，需要取消測(cè)試時(shí)，請(qǐng)務(wù)必提前一天(24小時(shí))進(jìn)行取消操作，或者聯(lián)系技術(shù)經(jīng)理進(jìn)行取消。否則，將收取一個(gè)小時(shí)的機(jī)時(shí)費(fèi)。

3.按照預(yù)約時(shí)長(zhǎng)收取機(jī)時(shí)費(fèi)。例如您預(yù)約的是9:00-10:00，那從9:00那一刻便會(huì)開(kāi)始計(jì)時(shí)。現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試需要提前30min把樣品交給我們，郵寄樣品至少確保我們?cè)跍y(cè)試樣品的前一天能收到，由我們幫您制樣。制樣費(fèi)用正常收取。若到了您的預(yù)約時(shí)間測(cè)試尚未結(jié)束，下個(gè)時(shí)間段若無(wú)人預(yù)約，可繼續(xù)做您的測(cè)試，正常計(jì)時(shí)。若后面有人預(yù)約，需征求對(duì)方同意方可，否則到時(shí)間自動(dòng)停止。

4.由我方制樣時(shí)，需要提前告知制樣方法，若不清楚，請(qǐng)?zhí)崆昂图夹g(shù)經(jīng)理溝通。如不溝通，不提供，我們將按照我方默認(rèn)方法進(jìn)行制樣，由此因制樣帶來(lái)的測(cè)試問(wèn)題，我們將不承擔(dān)任何責(zé)任。

5.測(cè)試中我們主要是根據(jù)您的要求進(jìn)行測(cè)試，所以如果樣品不好，請(qǐng)及時(shí)停止測(cè)試，及時(shí)止損。測(cè)試中的問(wèn)題請(qǐng)及時(shí)現(xiàn)場(chǎng)解決，聯(lián)系技術(shù)經(jīng)理或工程師。不接受后期長(zhǎng)時(shí)間的反饋。

6.請(qǐng)認(rèn)真核實(shí)樣品情況，如樣品的磁性、易氧化性等特性，若因隱瞞樣品情況造成儀器的損壞及全部損失將由您承擔(dān)。

項(xiàng)目案例

Frontiers in Nanotechnology.2021.710348:氟化鐵多孔微球

電子材料的SEM照片和相應(yīng)元素的線(xiàn)掃圖

Frontiers in Nanotechnology.2021.710348:氟化鐵微球

SEM選取照片和相應(yīng)元素的點(diǎn)掃圖

常見(jiàn)問(wèn)題
1、北京SEM現(xiàn)場(chǎng)的地點(diǎn)在哪里？

實(shí)驗(yàn)室地址：北京市海淀區(qū)成府路45號(hào)中關(guān)村制造大街F座1樓東側(cè)。

到地點(diǎn)可聯(lián)系鄭老師-19136329225。


2、如何預(yù)約？

需要先在官網(wǎng)下單，技術(shù)經(jīng)理會(huì)聯(lián)系您預(yù)約測(cè)試時(shí)間。請(qǐng)務(wù)必告訴技術(shù)經(jīng)理樣品個(gè)數(shù)，方便安排測(cè)試時(shí)間點(diǎn)及時(shí)長(zhǎng)。下單預(yù)約時(shí)長(zhǎng)只是參考，收費(fèi)以實(shí)際測(cè)試時(shí)長(zhǎng)為準(zhǔn)。

3、噴金與否

噴金的目的是改善樣品的導(dǎo)電性。導(dǎo)電性不好或者不導(dǎo)電的樣品，請(qǐng)選擇噴金。

4、云現(xiàn)場(chǎng)/現(xiàn)場(chǎng)可以測(cè)磁性樣品嗎？

可以的。

5、能譜可以全掃位置元素嗎？

目前，點(diǎn)掃、線(xiàn)掃和面掃都需要給定元素測(cè)試。特殊的，點(diǎn)掃可以全掃，而且只能掃含量高的部分元素。

SEM云現(xiàn)場(chǎng)/現(xiàn)場(chǎng)-北京

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