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偏光顯微鏡

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偏光顯微鏡

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項(xiàng)目介紹

巖石礦物薄片鑒定方法；

偏光顯微鏡下透明礦物的鑒定觀察與描述；

巖石礦物薄片分析，火成巖、沉積巖、變質(zhì)巖等薄片鑒定、照片分析總結(jié)及地質(zhì)應(yīng)用。

樣品要求

1. 樣品尺寸小于20X20 mm，厚度小于15mm；

2. 請注明樣品成分與類型。

項(xiàng)目案例

常見問題
1、偏光顯微鏡的原理。

將普通光改變?yōu)槠窆膺M(jìn)行鏡檢的方法，以鑒別某一物質(zhì)是單折射（各向同性）或雙折射（各向異性）。雙折射是晶體的基本特性，因此廣泛地應(yīng)用在礦物、化學(xué)等領(lǐng)域。

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