X射線衍射,通過對材料進行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態(tài)等信息的研究手段。得益于同步輻射光源自身具有光子高通量以及更高的準直性等優(yōu)點,往往會得到更多、更強的衍射信號,這對后續(xù)的數據分析提供了更多的可能性。
原位XRD相對于非原位XRD的技術優(yōu)勢:
1、原位XRD在材料反應過程中得到實時的結構變化信息,可以深入的認識材料在充放電過程中發(fā)生的反應,對如何改進材料也具有很大的指導意義;非原位XRD的測試往往不能很好的還原真實的狀況,另外,如果所測試的材料狀態(tài)對空氣敏感,那么,必須將材料放在隔絕空氣的裝置中測試才能反應材料的真實狀態(tài)。
2、原位XRD的測試可以在短時間內得到大量可對比信息,由于原位測試的整個過程是對同一個材料的同一個位置的測試,因此得到的信息(無論是晶胞參數還是峰強度,還是其他的參數)都是具有相對可比性的。
而非原位XRD得到的信息相對可比性較差且對測試過程中的操作要求較高,比如,極片拆卸洗滌后如果極片處于褶皺狀態(tài),材料測試的會產生高低變化,測到的XRD的峰會發(fā)生偏移,相應的精修得到的晶胞參數也會有所變化;而不同極片活性材料質量和分布必然存在不同,這也必然導致不同充放電狀態(tài)下的峰強可比性是比較差的。
總結:
原位XRD作為一種XRD的衍生測試手段,可以很好的解決非原位XRD測試過程中的諸多問題,目前已在鋰離子電極材料測試中得到了很好的運用,能夠實時檢測電極材料。
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