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    半導體光電測試

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    半導體光電測試

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    項目介紹

    半導體光電測試系統(tǒng)搭配Keithley 4200主機、真空變溫高精度探針臺（3探針）、紫外增強氙燈、單色儀、液氮罐、真空泵；可應用于二極管、場效應管、太陽能電池等半導體器件的電學和光電測試；可同步查看電流電壓(I-V)、電容電壓(C-V) 和超快速脈沖式I-V 特性

    樣品要求

    1、薄膜或塊體；

    2、電極尺寸：不小于200μm×200μm；

    3、光電測試受光面尺寸：小于8mm×4mm。

    項目案例
    常見問題
    1、光波長大概范圍多少？

    光波長范圍：200nm~1100nm

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