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    正電子湮滅壽命譜儀（PAT）

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    正電子湮滅壽命譜儀（PAT）

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    項目介紹

    正電子湮沒技術(shù)（Positron Annihilation Technique，PAT），是一項較新的核物理技術(shù)，它利用正電子在凝聚物質(zhì)中的湮沒輻射帶出物質(zhì)內(nèi)部的微觀結(jié)構(gòu)、電子動量分布及缺陷狀態(tài)等信息，從而提供一種非破壞性的研究手段而備受人們青睞。

    目前已經(jīng)成為研究物質(zhì)微觀結(jié)構(gòu)、缺陷、疲勞等的新技術(shù)與手段。

    樣品要求

    1.樣品狀態(tài)：粉末、塊狀/薄膜樣品（粉末或厚度不夠的薄膜需要壓片）；

    2.粉末樣品：粉末的樣品量需要能壓成直徑＞10mm，厚度＞1mm的2個圓片，按體積送樣1-2ml左右；

    3.塊狀/薄膜樣品：理想樣品尺寸12×12×2mm；直徑12×2mm（邊長/直徑＞10mm，厚度＞1mm）。

    項目案例
    常見問題
    1、怎么收費呢？

    項目目前為報價模式，根據(jù)測試要求和目的報價。

    2、正電子淹沒在高分子行業(yè)的應(yīng)用

    高分子薄膜研究中，可準(zhǔn)確探測高分子薄膜微觀缺陷（自由體積）尺寸、分?jǐn)?shù)、濃度、深度分布，在高分子薄膜微結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系、表面效應(yīng)、界面效應(yīng)等方面發(fā)揮積極作用。納米材料中研究晶粒界面結(jié)構(gòu)和界面缺陷分布。

    3、測試材料的缺陷，下單需要選什么？

    解譜軟件lifetime9.0+常規(guī)壽命譜+平均自由體積

    學(xué)術(shù)文章

    正電子湮滅壽命譜儀（PAT）

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