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    當(dāng)前位置：材料測試 ?  顯微成像 ? 

    環(huán)境掃描電鏡（ESEM）

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    環(huán)境掃描電鏡（ESEM）

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    如有設(shè)備采購需求，請聯(lián)系專屬顧問。
    項目介紹

    1、環(huán)境掃描電鏡型號為美國 FEI Quanta 250，可測試各種粉末、塊體、薄膜樣品。

    樣品要求

    粉末、薄膜、塊體均可測試，粉體樣品大概10mg，塊體樣品要求長寬小于1cm，厚度小于1cm

    1、粉體樣品，常規(guī)粉末直接粘到導(dǎo)電膠上測試，如需分散后測試請?zhí)崆罢f明；

    2、薄膜或塊體，請標(biāo)明測試面，如需測試截面，請自行自備截面或提前說明；

    3、液體或磁性樣品暫不接樣。

    4、分析元素范圍：Be4~Am95。

    項目案例

    Al膜（10um標(biāo)尺）

    Al膜（2um）

    Al膜（500nm）

    點掃

    線掃

    面掃mapping

    常見問題
    1、關(guān)于樣品是否具有磁性的說明。

    磁性顆粒，易吸附到極靴上，一般實驗室做電鏡（SEM和TEM）不拍磁性樣品。

    根據(jù)不同老師的實驗經(jīng)驗，對所拍樣品中磁性強(qiáng)弱的接受度不同，所以請大家務(wù)必如實填寫樣品是否含磁及磁性的強(qiáng)弱。

    為方便大家區(qū)分磁性及強(qiáng)弱，做如下一些定義：磁性（弱磁、強(qiáng)磁）：含鐵、鈷、鎳均為磁性樣品，吸鐵石能吸起來為強(qiáng)磁，吸鐵石吸不起來為弱磁。

    備注：磁性分硬磁和軟磁，有些材料對外不表現(xiàn)磁性，但加磁場后容易磁化，受熱后磁性增強(qiáng)。

    環(huán)境掃描電鏡（ESEM）

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