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    表面光電壓譜儀（SPV）

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    表面光電壓譜儀（SPV）

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    項目介紹

    表面光電壓法(surface photovoltage method)，簡稱SPV法，是通過測量由于光照在半導體材料表面產(chǎn)生的表面電壓來獲得少數(shù)載流子擴散長度的方法。原理是: 用能量大于半導體材料禁帶寬度的單色光照射在半導體材料表面，在其內(nèi)部產(chǎn)生電子-空穴對，受濃度梯度驅(qū)動擴散至半導體材料近表面空間電荷區(qū)的電子和空穴將被自建電場分離，形成光生電壓，即表面光電壓。

    根據(jù)表面光電壓與入射單色光的光子流密度、波長、材料對光的吸收系數(shù)和少子擴散長度之間的關(guān)系可得到少子擴散長度，進而可以獲得少子壽命。SPV法是表征半導體材料少子擴散長度的主要方法，其優(yōu)點有：

    1.一種穩(wěn)態(tài)方法，與時間無關(guān)，從而避免了體內(nèi)和表面復(fù)合對測試結(jié)果的影響；

    2.一般情況下，表面復(fù)合過程不影響少子擴散長度的測試結(jié)果，表面復(fù)合速率只對表面光電壓信號強度產(chǎn)生影響，因而無須特殊處理材料的表面；

    3.一種無接觸的測試方法，其測試成本低、易于操作、不容易受到干擾，而且可以實施面掃描（mapping）。

    樣品要求

    1.粉末材料需研磨成細小顆粒。（粉末樣品裝在玻璃瓶或塑料管中，請勿放在樣品袋中，以避免靜電影響取樣）用量：堆積體積不少于0.3ml

    2.薄膜材料要求有一定厚度面積最好為20mm*5mm~~40mm*15mm，類似于電化學工作電極需要預(yù)留出一段空白導電玻璃。

    3. 半導體以及晶體測試需要提前引出陰陽極接頭。（薄膜，半導體、晶體只能測試表面光電壓）

    4.穩(wěn)態(tài)測試告知掃描速度及測試范圍，大致激發(fā)波長；

    5.瞬態(tài)告知激發(fā)波長和大致激發(fā)強度。

    項目案例

    表面光電壓譜儀（SPV）

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