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當(dāng)前位置：材料測(cè)試 ?  力學(xué)性能 ? 

單顆粒力學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng)

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單顆粒力學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng)

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項(xiàng)目介紹

單顆粒力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)是搭載了光學(xué)顯微鏡，壓力測(cè)量系統(tǒng)，厚度測(cè)量系統(tǒng)和力位移控制系統(tǒng)，對(duì)顆粒進(jìn)行擠壓，記錄力-位移曲線--尋找“失效”點(diǎn):顆粒被壓潰(失效)的力。

測(cè)試方法：粉未分散到液體中，滴加至載玻片，光學(xué)顯微鏡下定位單顆粒，控制壓頭勻速下壓，在顆粒壓縮過程中采集力和位移曲線，計(jì)算單顆粒力學(xué)性能。

測(cè)試參數(shù)：放大倍數(shù):最高 1200 倍；壓力測(cè)試范圍:0-100 mN；壓力測(cè)試精度:土0.1 mN；位移最小單位:10 nm；數(shù)據(jù)采集頻率 1000 HZ。

樣品要求

1. 顆粒尺寸微米級(jí)左右；

2. 最低測(cè)試顆粒粒徑為5um。

項(xiàng)目案例

單顆粒力學(xué)測(cè)試性能

學(xué)術(shù)文章

單顆粒力學(xué)性能測(cè)試系統(tǒng)

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