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在同步輻射散射測(cè)試中影響測(cè)試效果的原因有哪些？
來(lái)源：測(cè)試GO 時(shí)間：2022-10-25 15:12:25 瀏覽：2287次

掠入射X射線散射（GIXS）包括廣角散射GIWAXS和小角度散射GISAXS，是基于同步輻射光源的X射線散射技術(shù)，用于表征表面或薄膜中的納米級(jí)密度相關(guān)性、納米物體的形狀、以及晶格中的原子和分子距離，被廣泛的應(yīng)用于研究有機(jī)太陽(yáng)能電池和鈣鈦礦太陽(yáng)能電池的形貌特征，晶體結(jié)構(gòu)等。

比如在OPV材料結(jié)構(gòu)研究中，GIWAXS被用來(lái)探測(cè)分子尺度、結(jié)構(gòu)信息，常用于研究有機(jī)給體和受體材料在活性層中的分子堆疊，如結(jié)晶度、晶格常數(shù)和取向性。GISAXS可以看作是傳統(tǒng)小角散射和全反射測(cè)量的結(jié)合，能夠獲得表面、薄膜、覆蓋層中的納米結(jié)構(gòu)（如納米顆粒、量子點(diǎn)等）的尺寸分布、形狀以及排列分布的相關(guān)信息。

 非富勒烯太陽(yáng)能電池

測(cè)試效果不好是什么原因?qū)е拢?/span>

散射信號(hào)會(huì)包含基底的信息，如不能完全扣除背底信號(hào)，就會(huì)導(dǎo)致無(wú)效信號(hào)干擾樣品信號(hào)，同時(shí)以下情況也是原因之一

1.    制樣不均勻，光斑打在了不合適位置；

2.    樣品表面不平整，影響信號(hào)；

3.    掠入射角度選擇不適宜；

4.    線站測(cè)試問(wèn)題，如光束線不穩(wěn)等。

 

同步輻射散射測(cè)試的樣品要求：

1.樣品測(cè)試請(qǐng)?zhí)峁┛瞻谆讟樱笤诳瞻谆咨铣练e與器件制備工藝一致的傳輸層且測(cè)試收費(fèi)；

2.基底多為單晶硅，可提供，若自行準(zhǔn)備尺寸不可超過(guò)2.5*2.5cm，1*1cm最好，默認(rèn)樣品不回收；

3.測(cè)試前請(qǐng)明確測(cè)試條件，如q值范圍、掠入射角度范圍、曝光時(shí)間等；

4.如對(duì)數(shù)據(jù)格式、數(shù)據(jù)處理有疑問(wèn)，請(qǐng)先瀏覽數(shù)據(jù)說(shuō)明；

5.請(qǐng)根據(jù)材料的耐氧、耐濕等性質(zhì)，妥善封裝樣品；


測(cè)試狗文庫(kù)百科

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文字是人類用符號(hào)記錄表達(dá)信息以傳之久遠(yuǎn)的方式和工具?，F(xiàn)代文字大多是記錄語(yǔ)言的工具。人類往往先有口頭的語(yǔ)言后產(chǎn)生書面文字，很多小語(yǔ)種，有語(yǔ)言但沒(méi)有文字。文字的不同體現(xiàn)了國(guó)家和民族的書面表達(dá)的方式和思維不同。文字使人類進(jìn)入有歷史記錄的文明社會(huì)。
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