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X射線熒光光譜法在材料測(cè)試中的優(yōu)點(diǎn)以及用途
來(lái)源:測(cè)試GO 時(shí)間:2022-09-27 10:08:50 瀏覽:2929次

X射線熒光光譜法可用于液體、粉末及固體材料的定性、定量分析。X射線熒光光譜儀可分為波長(zhǎng)色散型(WD)和能量色散型(ED)。當(dāng)X射線照射到供試品時(shí),供試品中的各元素被激發(fā)而輻射出各自的熒光X射線。通過(guò)準(zhǔn)直器經(jīng)分光晶體分光,按照布拉格定律產(chǎn)生衍射,使不同波長(zhǎng)的熒光X射線按照波長(zhǎng)順序排列成光譜,不同波長(zhǎng)的譜線由探測(cè)器在不同的衍射角上接收。根據(jù)測(cè)得譜線的波長(zhǎng)識(shí)別元素種類(lèi);根據(jù)元素特征譜線的強(qiáng)度與元素含量間的關(guān)系,計(jì)算獲得供試品中每種元素含量百分?jǐn)?shù),即為X射線熒光光譜分析法。
 X射線熒光光譜儀器
X射線熒光光譜法優(yōu)點(diǎn):

首先,與原級(jí)X射線發(fā)射光譜法比,不存在連續(xù)X射線光譜,以散射線為主構(gòu)成的本底強(qiáng)度小,譜峰與本底的對(duì)比度和分析靈敏度顯著提高,操作簡(jiǎn)便,適合于多種類(lèi)型的固態(tài)和液態(tài)物質(zhì)的測(cè)定,并易于實(shí)現(xiàn)分析過(guò)程的自動(dòng)化。樣品在激發(fā)過(guò)程中不受破壞,強(qiáng)度測(cè)量的再現(xiàn)性好,以及便于進(jìn)行無(wú)損分析等。其次,與原子發(fā)射光譜法相比,除輕元素外,特征(標(biāo)識(shí))X射線光譜基本上不受化學(xué)鍵的影響,定量分析中的基體吸收和增強(qiáng)效應(yīng)較易校正或克服,譜線簡(jiǎn)單,互相干擾比較少,且易校正或排除。
 
X射線熒光光譜法用途:

X射線熒光光譜法用于冶金、地質(zhì)、化工、機(jī)械、石油、建材等工業(yè)部門(mén),以及物理、化學(xué)、生物、地學(xué)、環(huán)境科學(xué)、考古學(xué)等。還可用于測(cè)定涂層和金屬薄膜的厚度和組成以及動(dòng)態(tài)分析等。


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文字是人類(lèi)用符號(hào)記錄表達(dá)信息以傳之久遠(yuǎn)的方式和工具?,F(xiàn)代文字大多是記錄語(yǔ)言的工具。人類(lèi)往往先有口頭的語(yǔ)言后產(chǎn)生書(shū)面文字,很多小語(yǔ)種,有語(yǔ)言但沒(méi)有文字。文字的不同體現(xiàn)了國(guó)家和民族的書(shū)面表達(dá)的方式和思維不同。文字使人類(lèi)進(jìn)入有歷史記錄的文明社會(huì)。
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