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動態(tài)二次離子質(zhì)譜儀(D-SIMS)

動態(tài)二次離子質(zhì)譜儀(D-SIMS)

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動態(tài)二次離子質(zhì)譜儀(D-SIMS)在材料分析中的用途

動態(tài)二次離子質(zhì)譜儀( D-SIMS )在材料分析中的用途 動態(tài)二次離子質(zhì)譜儀 D-SIMS 是一種材料表面分析技術(shù),它基于二次離子發(fā)射原理,利用高能離子束轟擊樣品表面,通過分析產(chǎn)生的二次離子來獲取材料表面的化學(xué)信息。 D-SIMS 技術(shù)在材料科學(xué)、半導(dǎo)體、薄膜、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)學(xué)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用...

2023-12-14

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動態(tài)二次離子質(zhì)譜技術(shù)(D-SIMS)改變表面分析的局限性

動態(tài)二次離子質(zhì)譜技術(shù) (D-SIMS) 改變表面分析的局限性 動態(tài)二次離子質(zhì)譜技術(shù) ( Dynamic Secondary Ion Mass Spectrometry ,簡稱 D-SIMS )是一種先進(jìn)的表面分析技術(shù),它通過對樣品表面進(jìn)行高能離子轟擊,產(chǎn)生微量的二次離子,并通過質(zhì)量分析器對這些二次...

2023-12-14

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一文讀懂D-SIMS

動態(tài)-二次離子質(zhì)譜(D-SIMS)用氣體等離子源轟擊樣品,使樣品表面原子、分子或離子等濺射出來,用質(zhì)量分析器接收濺射出的二次離子,通過分析其質(zhì)荷比(m/z)獲得二次離子質(zhì)譜。由于D-SIMS的離子源為高密度離子束(原子劑量10 12 ions/cm 2 ),對樣品的濺射作用大,故是一種破壞性分析。...

2019-10-25

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